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梅特勒-托利多 XSE分析天平

梅特勒-托利多 XSE分析天平

更新时间:2020-08-21

产品型号:

产品报价:

产品特点:梅特勒-托利多 XSE分析天平
采用高分辨率后置式传感器,内置两组校正砝码,满足用户称量需求

详细资料:

 XSE分析天平

•采用高分辨率后置式传感器,内置两组校正砝码,满足用户称量需求

•StatusLightTM 状态指示灯,通过颜色直观显示天平的状态

•具有中文界面的TFT彩色触摸屏,实现安全、便捷的天平操作

•SmartGrid悬挂式网络秤盘、获得快速、称量结果

•ErgoClips Basket易巧称量件,安全放置去皮容器

•LevelGuideTM 水平向导,在天平未处于水平时提供警告,并在触摸屏上显示完整的说明和红/绿色实时图形化平水泡

•SmartTracTM  动态图形显示,直接显示天平已使用的称量范围

•proFACT校准技术,温度漂移和时间设置触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得称量结果

•MinWeigh称量值功能,质量法规的称量帮助

•TesManagerTM 测试管理器内置固件中进行符合SOP的日常测试

•具有基础称量,统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测定、差重称量、滴定应用、移液器测试等内置应用程序

•可拆卸,清洗的防风罩设计,实现清洁

•标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽,方便连接打印机、电脑等外围设备

•通过英特网下载e-Loader II软件,实现天平软件的更新

 

 

 

XSE105DU

XSE205DU

XSE104

XSE204

秤量

41/120

81/220

120

220

可读性

0.01/0.1

0.01/0.1

0.1

0.1

重复性

0.01/0.04

0.01/0.04

0.04

0.04

线性误差

0.06

0.06

0.1

0.1

稳定时间

3/1.5

3/1.5

1.5

1.5

秤盘尺寸(WxD

78x73

78x73

78x73

78x73

 

 

DU=双量程     sd=标准偏差

 

 

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